新しいX線光電子分光装置(XPS)を公開しました。（25/04/16掲載）
機種名：PHI GENESIS／メーカー：ULVAC PHI
・基本仕様
単色化X線源(Al)、分析径100um(可変5um～)、点・線・面分析(マッピング)、デプスプロファイル測定、帯電中和、試料ホルダー最大80mm×80mm
・オプション
走査型オージェ電子分光分析(SAM)、Arモノマー/ガスクラスターイオンエッチング、紫外光電子分光分析(UPS)、低エネルギー逆光電子分光分析(LEIPS)、反射電子エネルギー損失分光分析(REELS)、角度分解測定、試料加熱最大800℃
粉末試料については当面依頼分析としてのみ測定可能とします。
全体講習会を5～6月に計画していますが、個別での講習も随時対応します。1日2000～4000円程度を予定しています。 学内者は1日4000円です。学外者はこちらをご覧ください。
蛍光寿命分光光度計
2025年3月から、蛍光寿命分光光度計の学内利用を開始しました。
機種名：FS5 Spectrofluorometer
メーカー：Edinburgh Instruments Ltd.,
・基本仕様
蛍光・励起スペクトル測定蛍光異方性測定TCSPC／MCSによる蛍光寿命測定
・・・その他の仕様・・・
・励起光源
紫外-可視-近赤外域蛍光スペクトル用キセノンランプ（150 W, 230 – 1000nm）
紫外域蛍光寿命用ピコ秒LED（292.5 nm, 1020 ps, 2.5 kHz – 20 MHz）
紫外域蛍光寿命用ピコ秒LED（336.3 nm, 1044 ps, 2.5 kHz – 20 MHz）
紫外域蛍光寿命用ピコ秒LED（380.6 nm, 889 ps, 2.5 kHz – 20 MHz）
紫外域蛍光寿命用パルス幅可変LED（401.8 nm, 43.1 ps – 1 ms, 0.1 Hz – 1 MHz）
紫外-可視-近赤外域蛍光寿命用マイクロ秒フラッシュランプ（5 W, 200–1000 nm）
・光検出器紫外–可視域蛍光スペクトル、蛍光寿命用標準PMT検出器（200–870 nm, 100 cps）
・蛍光寿命測定時間幅
TCSPCモジュール（2.5 ns – 50 μs）MCSモジュール（5 μs – 10 s）
・注意事項
粉末試料については、機器分析センター新館204号室でセル充填（試料調製）し、粉体を装置室で暴露しないようにしてください。
溶液試料、固体試料共に、ホルダーは原則として各研究室で準備してください。
・講習会 年に1回を目途に実施します。
・利用料金 今年度の利用料金は未定です。1時間辺り300～1,000円を予定しています。