NEW!! 電界放射型透過電子顕微鏡（FE-TEM）更新のお知らせ(2026.3.9 up)
利用終了装置 ： 日本FEI製Tecnai Osirisおよび、日立製HD-2300C
現装置利用可能期間 ： 2026年4月10日（金）17：00まで
※当日まで利用可。装置内のデータは、必ず持ち帰ってください。
新規装置運用開始 ： 2026年11月2日（月）予定（前倒しになる可能性あり）
場 所 ： 機器分析センター旧館（共同機器室）1階B104号室
更新機器 ： 電界放出形透過電子顕微鏡（FE-TEM） 日本電子製 JEM-F200 ※以下詳細参照
装置性能および仕様 ：
| 加速電圧 | 80, 120, 200ｋV |
| 電子銃 | 冷陰極電界放出形 |
| 観察モード | 走査透過暗視野像、走査透過明視野像、反射電子像 |
| 元素分析 | エネルギー分散形X線分析装置（EDS）※検出器2基搭載 |
| その他の機能 | EELS：CEOS社製 CEFIT |
| トモグラフィーシステム |
新規装置の搬入および立ち上げ作業のため、約半年間は装置をご利用いただけませんので、あらかじめご了承ください。
詳細につきましては、下記の連絡先までお問い合わせください。
ご不便をおかけいたしますが、何卒ご理解のほどお願い申し上げます。
■ 連絡先；機器分析センター 内線；8420 E-mail；kbc@yamanashi.ac.jp
新しいX線光電子分光装置(XPS)を公開しました。（25/04/16掲載）
機種名：PHI GENESIS／メーカー：ULVAC PHI
・基本仕様
単色化X線源(Al)、分析径100um(可変5um～)、点・線・面分析(マッピング)、デプスプロファイル測定、帯電中和、試料ホルダー最大80mm×80mm
・オプション
走査型オージェ電子分光分析(SAM)、Arモノマー/ガスクラスターイオンエッチング、紫外光電子分光分析(UPS)、低エネルギー逆光電子分光分析(LEIPS)、反射電子エネルギー損失分光分析(REELS)、角度分解測定、試料加熱最大800℃
粉末試料については当面依頼分析としてのみ測定可能とします。
学内には通知済みの通り、全体講習会は〆切済みですが、個別での講習も随時対応します。
学内者の利用料は4,000円/日、
他大学や公的機関は6,600円/日。
民間企業の場合は5,200円/時間で詳しくはこちらの案内ををご覧ください。
蛍光寿命分光光度計
2025年3月から、蛍光寿命分光光度計の学内利用を開始しました。
機種名：FS5 Spectrofluorometer
メーカー：Edinburgh Instruments Ltd.,
・基本仕様
蛍光・励起スペクトル測定蛍光異方性測定TCSPC／MCSによる蛍光寿命測定
・・・その他の仕様・・・
・励起光源
紫外-可視-近赤外域蛍光スペクトル用キセノンランプ（150 W, 230 – 1000nm）
紫外域蛍光寿命用ピコ秒LED（292.5 nm, 1020 ps, 2.5 kHz – 20 MHz）
紫外域蛍光寿命用ピコ秒LED（336.3 nm, 1044 ps, 2.5 kHz – 20 MHz）
紫外域蛍光寿命用ピコ秒LED（380.6 nm, 889 ps, 2.5 kHz – 20 MHz）
紫外域蛍光寿命用パルス幅可変LED（401.8 nm, 43.1 ps – 1 ms, 0.1 Hz – 1 MHz）
紫外-可視-近赤外域蛍光寿命用マイクロ秒フラッシュランプ（5 W, 200–1000 nm）
・光検出器紫外–可視域蛍光スペクトル、蛍光寿命用標準PMT検出器（200–870 nm, 100 cps）
・蛍光寿命測定時間幅
TCSPCモジュール（2.5 ns – 50 μs）MCSモジュール（5 μs – 10 s）
・注意事項
粉末試料については、機器分析センター新館204号室でセル充填（試料調製）し、粉体を装置室で暴露しないようにしてください。
溶液試料、固体試料共に、ホルダーは原則として各研究室で準備してください。
・講習会 年に1回を目途に実施します。
・利用料金 利用は学内者のみで1時間あたり300円です。